Der Ugra-Offset-Testkeil 1982© (im folgenden "Ugra-Keil" genannt) ist zur Kontrolle der Offsetplattenkopie bestimmt. Darüber hinaus kann er auch für einige Bewertungen im Andruck und bei Druckversuchen verwendet werden. An der Druckplatte können folgende Kriterien bewertet werden:

• Belichtungszeit
• Belichtungsspielraum
• Auflösung
• Gradation
• Rasterpunktwiedergabe

Aufbau

Halbtonkeil

Die Dichtewerte des Halbtonkeils sind oberhalb der Halbtonfelder angeschrieben. Die angeschriebenen Dichtewerte sind gültig, wenn die Nulleichung auf den leeren Strahlengang (und nicht auf den transparenten Film) vorgenommen wird.

Mikrolinien

Die 12 Mikrolinienfelder weisen positive und negative Kreise, zwischen 4 und 70 µm auf. Die Mikrolinienfelder des Ugra-Keils haben die gleichen Werte wie die Mikrolinienfelder des FOGRA K-Feldes. (Gegenüber dem K-Feld in der FOGRA-PMS-Druckkontrolleiste besitzt der Ugra-Keil zusätzlich die Linienbreiten von 4, 25, 40, 55 und 70 Mikron). Die Mikrolinien des Ugra-Keils können somit nach den gleichen Methoden bewertet werden wie das FOGRA K-Feld.

Rasterkeil 60L/cm

Die Rasterpunkte wurden nach dem FOGRA-Kettenpunktmodell gezeichnet. (Im Interesse der Verwendung eines einheitlichen Rasterpunktmodells verzichtete die Ugra auf die Verwendung ihres eigenen Rasterpunktmodells.) Die Punktform wurde aufgrund der heutigen Erkenntnisse über die ideale Rasterpunktform gewählt. Es handelt sich um einen gemässigten Kettenraster. Die Flächenbedeckungen, bei denen die Punktberührung stattfindet, liegen symmetrisch zu 50%.

Schiebe- und Doublierfelder

Beim Schieben werden die quer zur Druckrichtung laufenden Linien dicker, während die parallel zur Abwicklungsrichtung verlaufenden Linien ihre Dicke beibehalten. Visuell äussert sich dies in einem Dunklerwerden der quer laufenden Linien. Beim Doublieren entsteht ein nicht passergenauer Übereinanderdruck der Linien, was sich visuell ebenfalls darin äussert, dass die Linien in einer bestimmten Richtung dunkler erscheinen. Im Gegensatz zum Schieben kann das Doublieren jedoch in jeder beliebigen Richtung auftreten.

Spitzpunktfelder negativ und positiv

Die Spitzpunktkfelder lassen sich grundsätzlich gleich wie die Mikrolinien beurteilen, indem nämlich festgestellt wird, wieweit sie als positive Punkte noch vorhanden bzw. als negative Punkte zur Vollfläche geworden sind.